Tema 1: Introducció. Alçament gràfic arquitectònic en mijos alvançats. 

Tema 2: Métodos indirectes. Fotogrametria

Tema 3: Métodos directes: Escàner làser 3D.

Tema 4: Registre i gestió de núvols de punts.

Tema 5: *Mallado i *texturizado.

Tema 6: Modelació *BIM.

Tema 7: Edició de plans en entorn *BIM.

Tema 8: Estudi solar d'un edifici i la seua implicació en els ODS.

Tema 9: Impressió 3D.