SIA. Sistema d'Informació Acadèmica

Esteu accedint a un curs acadèmic que no està actiu. La informació no correspon al curs acadèmic actual.

SIT016 - Tècniques de Caracterització de Materials Ceràmics

Semestre 1

Temari

Temari

Tema 1. Espectrometria de fluorescència de raigs X.

1.1 L'emissió de l'espectre característic de raigs X

1.2 Espectròmetre de fluorescència de raigs X

1.3 Anàlisi qualitativa per fluorescència de raigs X

1.4 Fonaments de l'anàlisi quantitativa per FRX

1.5 Anàlisi quantitativa

1.6 Preparació de mostra

1.7 Condicions d'operació en l'anàlisi quantitativa i qualitativa per FRX

 

Tema 2.Difracció de raigs X.

2.1 Teoria de la difracció. Aspectes físics i geomètrics

2.2 La matèria cristal·lina.

2.3 Instrumentació. El difractòmetre de pols

2.5 Informació continguda en els difractogrames

2.6. Preparació de mostra per a DRX

2.7. Anàlisi qualitativa per DRX

2.8. Anàlisi quantitativa per DRX

2.9. Aplicacions

 

Tema 3.Tècniques de determinació de la grandària de partícula.

3.1 Característiques de les partícules.

3.2 Generalitats sobre les tècniques de mesura de la grandària de partícula.

3.3 Tècnica de sedimentació controlada per absorció de raigs X.

3.4 Tècnica de dispersió d'un feix làser.

3.5 Preparació de mostra.

 
Tema 4. Densitat, superfície específica i porositat.

4.1 Densitat

4.2 Porositat oberta

4.3 Superfície específica

4.4 Distribució de la grandària de mesoporos. Condensació capil·lar.

 

Tema 5. Microscòpia electrònica de rastreig.

5.1 Instrumentació: components del SEM

5.2 Interacció feix d'electrons - mostra.

5.3 Formació d'imatge.

5.4 Microanàlisi

Universitat Jaume I CIF: Q-6250003-H Av. Vicent Sos Baynat, s/n 12071 Castelló de la Plana, Espanya
Tel.: +34 964 72 80 00 Fax: +34 964 72 90 16